第２８回 LSIテスティングシンポジウムでの論文発表、商業展示のご報告 2008年11月12日(水)〜14日(金)、於千里ライフサイエンスセンター(大阪府豊中市) http://www-lsits.ise.eng.osaka-u.ac.jp

LSI テスティングシンポジウムは、LSI のテスティング技術に関し、設計、プロセス、テスト、診断、解析、 および設計・製造・テスト装置分野の研究者が一堂に会し議論する場を提供することを目的として、毎年開催されています。 本シンポジウムでの当社論文発表及び商業展示のご報告をさせて戴きます。

■論文発表について

故障解析・観察装置向CADナビゲーションシステム「NASFA」、「Camelot/Knights」を使用した実例の発表をさせて戴きました。

1． 故障解析・観察装置用CADナビゲーションシステム「NASFA (NAvigation System for Failure Analysis)」新機能のご紹介 対象製品：「NASFA」 講演者：アストロン　営業部 論文PDF

2． A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure---scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination--- 対象製品「Camelot/Knights」 講演者：ST Microelectronics

■商業展示について

■デモンストレーション内容

・NASFA/BeNAS (故障解析用CADナビゲーションシステム)

・Camelot (故障解析用CADナビゲーションシステム)

Vcas(仮名) (故障解析用SEM画像比較ソフト)

・SView/SView-PC (GDS�Uストリームデータ高速表示プログラム)

・I-Navi (イメージナビゲーションシステム)

多数のご来場誠に有難う御座いました。 ご質問やご要望などがございましたら、お気軽にお問い合わせください。