半導体SEMICONDUCTOR
故障解析支援 – 開発実績
故障解析
「SEM画像とCADデータ重ね合せ表示 (CADnavigation)」
解析装置から送られてくるSEM画像等とCADデータの重ね表示、連動等を行います。(BeNAS・NASFA開発販売)
「パストレース」
レイアウトデータの等電位追跡を行います。
解析装置から送られてくるSEM画像等とCADデータの重ね表示、連動等を行います。(BeNAS・NASFA開発販売)
レイアウトデータの等電位追跡を行います。